株式会社サンエス 「ICVSセンター」、「解析」、「LSI解析」、「LSI故障解析」、「LSI品質」、「LSI評価」、-「Failure Analysis」、「LSI解析サービス」 SUN-S Corporation
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半導体デバイスの不良解析・回路修正の受託サービスを行っております。
最先端の装置と迅速な対応で、解析サポートをさせていただきます。
 
FIB回路修正サービス ・FIB回路修正
IC不良解析サービス ・エミッション発光
・OBIRCH解析
開封サービス ・ディバイス研磨、開封
・チップAu、PI除去
・冶具、ソケットの作成
・X線解析 ・テスター解析
・SEM、STEM、TEM、断面解析
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