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半導体デバイスの不良解析・回路修正の受託サービスを行っております。
最先端の装置と迅速な対応で、解析サポートをさせていただきます。
・FIB回路修正
・エミッション発光
・OBIRCH解析
・ディバイス研磨、開封
・チップAu、PI除去
・冶具、ソケットの作成
・X線解析 ・テスター解析
・SEM、STEM、TEM、断面解析
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株式会社サンエス ICVSセンター
〒222-0033 神奈川県横浜市港北区新横浜 3-8-8 日総第16ビル1F
TEL:045-478-7015 FAX:045-478-7016
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